loading

Nghiên cứu sự sai hỏng của tinh thể Silicene bằng phương pháp phiếm hàm mật độ liên kết mạnh : : Luận văn thạc sĩ vật lý chuyên ngành Vật lý Lý thuyết và Vật lý toán / Nguyễn Thị Thùy Dương ; Huỳnh Anh Huy (người hướng dẫn khoa học)

Tác giả : Nguyễn Thị Thùy Dương ; Huỳnh Anh Huy (người hướng dẫn khoa học)

Nhà xuất bản : Trường Đại học Cần Thơ

Năm xuất bản : 2018

Nơi xuất bản : Cần Thơ

Mô tả vật lý : vii, 64 tr. : minh họa ; 30 cm

Số phân loại : 621.38152

Chủ đề : 1. Chất bán dẫn. 2. Semiconductors. 3. Vật lý ứng dụng.

Thông tin chi tiết

Tóm tắt :

Nội dung luận văn giới thiệu về nghiên cứu sự sai hỏng của tinh thể Silicene bằng phương pháp phiếm hàm mật độ liên kết mạnh.

 Thông tin dữ liệu nguồn

 Thư viện  Ký hiệu xếp giá  Dữ liệu nguồn
Thư viện đại học Cần Thơ
https://lrcopac.ctu.edu.vn/pages/opac/wpid-detailbib-id-252129.html