
Nghiên cứu sự sai hỏng của tinh thể Silicene bằng phương pháp phiếm hàm mật độ liên kết mạnh : : Luận văn thạc sĩ vật lý chuyên ngành Vật lý Lý thuyết và Vật lý toán / Nguyễn Thị Thùy Dương ; Huỳnh Anh Huy (người hướng dẫn khoa học)
Tác giả : Nguyễn Thị Thùy Dương ; Huỳnh Anh Huy (người hướng dẫn khoa học)
Nhà xuất bản : Trường Đại học Cần Thơ
Năm xuất bản : 2018
Nơi xuất bản : Cần Thơ
Mô tả vật lý : vii, 64 tr. : minh họa ; 30 cm
Số phân loại : 621.38152
Chủ đề : 1. Chất bán dẫn. 2. Semiconductors. 3. Vật lý ứng dụng.
Thông tin chi tiết
Tóm tắt : | Nội dung luận văn giới thiệu về nghiên cứu sự sai hỏng của tinh thể Silicene bằng phương pháp phiếm hàm mật độ liên kết mạnh. |
Thông tin dữ liệu nguồn
Thư viện | Ký hiệu xếp giá | Dữ liệu nguồn |
---|---|---|
![]() |
|
https://lrcopac.ctu.edu.vn/pages/opac/wpid-detailbib-id-252129.html |