
Surface analysis of polymers by XPS and static SIMS / D. Briggs
Tác giả : D. Briggs
Nhà xuất bản : Cambridge University Press
Năm xuất bản : 1998
Nơi xuất bản : Cambridge
Mô tả vật lý : xiv, 198 p. : ill. ; 25 cm
ISBN : 9780521352222
Số phân loại : 620.192
Chủ đề : 1. Khối lượng ion. 2. Polyme -- Phân tích -- Bề mặt. 3. Tia X. 4. Polymers -- Surfaces -- Analysis. 5. Secondary ion mass Spectrometry. 6. X-ray spectroscopy. 7. Cơ học công trình. 8. Kỹ thuật.
Thông tin chi tiết
Tóm tắt : | This in-depth treatment of the instrumentation, physical bases and applications of x-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and static secondary ion mass spectroscopy (SSIMS) contains a specific focus on the subject of polymeric materials. XPS and SSIMS are widely accepted as the two most powerful techniques for polymer surface chemical analysis, particularly in the context of industrial research and problem solving. |
Thông tin dữ liệu nguồn
Thư viện | Ký hiệu xếp giá | Dữ liệu nguồn |
---|---|---|
![]() |
|
https://lrcopac.ctu.edu.vn/pages/opac/wpid-detailbib-id-168355.html |